MATS-3000S聯(lián)眾軟磁材料測量儀鐵氧

產(chǎn)品簡介
MATS-3000S聯(lián)眾軟磁材料測量儀鐵氧
1、探頭加入空氣磁通補償線圈，結(jié)果更準確
2、磁通正弦，消除諧波影響; 不含銅損，鐵損測量真實
3、適合各種形狀和尺寸的單片測量
4、定 B(磁感)測量 Ps（鐵損）
5、三個 Bm 測試點自由設定 6、手工繪制 Ps(B)損耗曲線

產(chǎn)品型號：ATS-201M

更新時間：2024-10-28

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：2029

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產(chǎn)品分類

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MATS-3000S聯(lián)眾軟磁材料測量儀鐵氧

一、簡介

ATS-101M硅鋼片鐵損測量儀適用于硅鋼片、電機、變壓器等生產(chǎn)廠家對產(chǎn)品品質(zhì)的管控，原料以及沖壓成形的單片均可檢測。儀器讀數(shù)直觀，操作簡易，只需將測頭覆蓋測試樣片即可讀得Ps值（W/KG）。

產(chǎn)品特性：

1、探頭加入空氣磁通補償線圈，結(jié)果更準確

2、磁通正弦，消除諧波影響; 不含銅損，鐵損測量真實

3、適合各種形狀和尺寸的單片測量

4、定 B(磁感)測量 Ps（鐵損）

5、三個 Bm 測試點自由設定 6、手工繪制 Ps(B)損耗曲線

參照國標GB/T13789-92中的測量方法設計而成，采用單片機控制技術(shù)和A/D、D/A相結(jié)合，內(nèi)置正弦波勵磁電源。各種厚度的冷軋取向、無取向和熱軋的硅鋼片等亦均可使用。

測試項目
測試樣品種類：可測試非晶/納米晶、硅鋼、坡莫合金和軟磁鐵氧體等軟磁材料;
測試樣品形狀：直接在樣品上繞制勵磁（N1）和感應（N2）線圈測量環(huán)形、矩形、EE形、EI形和U形等閉路樣品;
采用愛潑斯坦方圈測量30mm?300mm硅鋼片的比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率，以及交流磁化曲線和損耗曲線;
可訂制非標磁磁導計測量特定尺寸的硅鋼片在頻率為50Hz和60Hz下的比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率，以及交流磁化曲線和損耗曲線;
可定制鐵芯測試工裝測量特定尺寸的電機定子鐵芯和非晶卷繞鐵芯等軟磁樣品及磁性器件的比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率，以及交流磁化曲線和損耗曲線;

MATS-3000S聯(lián)眾軟磁材料測量儀鐵氧技術(shù)參數(shù)

1、硬件參數(shù)

1.1、MATS-3000M硅鋼材料測量裝置

型號		MATS-3010M/10k	MATS-3010M/20k
輸出功率		500VA正弦波	500VA正弦波
頻率范圍		45Hz～10kHz	45Hz～20kHz
頻率細度		1Hz	1Hz
輸出電壓	A型	0～2V～10V～50V～150V 四檔自動量程，用于環(huán)形試樣測試；
	B型	0～10V～50V～150V～300V四檔自動量程，用于愛潑斯坦方圈樣品測試；
輸出電流		0～10A	0～10A
測量模式		支持全頻段鎖定磁感和鎖定磁場測量
保護功能		過熱、過流、過壓和參數(shù)保護

1.2、PC-6684數(shù)據(jù)采集卡

參數(shù)	技術(shù)指標
采樣速率	40MHz×2通道
分辨率和線性度	12Bit±1/2LSB
電壓量程	±1V（滿量程）
采樣時標	25ns～800ns硬件時標
內(nèi)存容量	512kByte×2

系統(tǒng)參數(shù)
1.使用環(huán)境

參數(shù)	技術(shù)指標
輸入電源	單相220V，50Hz
使用環(huán)境	環(huán)境溫度：23±5℃；環(huán)境濕度：30～75%RH
外磁場干擾	應避免
熱平衡時間	10分鐘

2、系統(tǒng)技術(shù)指標

2.1、依據(jù)***GB/T 3655-2008，在50Hz、60Hz頻率下，使用25cm愛潑斯坦方圈測量30×300的硅鋼標樣，技術(shù)指標如下：

被測參數(shù)	Ps(%)	Hrms(%)	Bm(%)	Hm(%)
不確定度(k=2)	1	2	1	2
重復性(恒溫)	± 0.5	± 1	± 0.5	± 1
備注	1.鎖B測試晶粒無取向硅鋼片Bm：1.5T；測試晶粒取向硅鋼片Bm：1.7T。 2.鎖H測試晶粒無取向硅鋼片Hm：1000A/m;測試晶粒取向硅鋼片Hm：500A/m。

2.2、依據(jù)***GB/T 3658-2008，在20Hz～2kHz頻率下，測量坡莫合金環(huán)形試樣，技術(shù)指標如下：

被測參數(shù)	Ps(%)	μa(%)	δ(%)	Bm(%)	Hm(%)
不確定度(k=2)	3	2	——	1	1
重復性(恒溫)	± 1.5	± 1	± 1	± 0.5	± 0.5
備注	1.試樣應為薄壁環(huán)，外徑/內(nèi)徑≤1.25。 2.測試前應先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。 3.不確定度為“-"，表示***中不要求。

2.3、依據(jù)***GB/T 19346.1-2017，測量非晶環(huán)形試樣，技術(shù)指標如下：

被測參數(shù)	Ps(%)	μa(%)	Ss(%)	Bm(%)	Hm(%)
不確定度(k=2)	3	3	3	1	1
重復性(恒溫)	± 1.5	± 1.5	± 1.5	± 0.5	± 0.5
備注	1.試樣應為薄壁環(huán)，外徑/內(nèi)徑≤1.25。 2.測試前應先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。 3.不確定度為“-"，表示***中不要求。